Инд. авторы: Grigoriev Y.N., Gorobchuk A.G.
Заглавие: Effect of RF discharge structure on etching rate in plasma-chemical reactor
Библ. ссылка: Grigoriev Y.N., Gorobchuk A.G. Effect of RF discharge structure on etching rate in plasma-chemical reactor // Proc. of the IEEE Region 8 International Conference on «Computational Technologies in Electrical and Electronics Engineering» (SIBIRCON 2010). Novosibirsk, 2010. - P.542-545.
Внешние системы: РИНЦ: 15323808; SCOPUS: 2-s2.0-77957261578;
Издано: Novosibirsk: , 2010
Физ. характеристика: с.542-545