Инд. авторы:	Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В.
Заглавие:	Особенности количественного анализа породообразующих минералов на электронно-зондовом микроанализаторе jxa-8230
Библ. ссылка:	Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Особенности количественного анализа породообразующих минералов на электронно-зондовом микроанализаторе jxa-8230 // Геология и геофизика. - 2021. - Т.62. - № 11. - С.1477-1482. - ISSN 0016-7886.
Внешние системы:	DOI: 10.15372/GiG2020207; РИНЦ: 47350328;
Реферат:	rus: Базовый программный пакет микроанализатора JXA-8230, как и его прибора-предшественника JXA-8100, использует для количественного анализа давний метод коррекции ZAF с небольшим различием - расчет массовых коэффициентов поглощения осуществляется с помощью теоретических данных К.Т. Чантлера. Эти данные были получены расчетом поперечного сечения взаимодействия рентгеновского фотона с электронами атома методами квантовой механики. Нововведение благоприятно сказалось на правильности рентгеноспектрального микроанализа. Контрольные испытания на образцах с преобладающим эффектом поглощения показали, что результаты анализа слегка занижены (менее 2 отн. %) вне зависимости от локализации аналитической линии в спектре поглощения матрицы. Как следствие, облегчается подбор образцов сравнения - достаточно, чтобы образец и образец сравнения принадлежали к одному изоморфному ряду, а интенсивность аналитической линии в образце сравнения допускала проведение измерений с необходимой точностью. eng: The basic software package of a JXA-8230 microanalyzer, like its predecessor JXA-8100, uses the long-established ZAF correction method (with some differences) for a quantitative analysis: Calculation of mass absorption coefficients is based on Chantler’s theoretical data. The core of this method is quantum-mechanical calculation of the cross section of the interaction between an X-ray photon and atomic electrons. This innovation has had a positive influence on the trueness of X-ray microanalysis. Control tests on specimens where the absorption effect is dominant have demonstrated that the results of this analysis are slightly lower (by less than 2%) independently of the matrix absorption interval in which the analytical line is located. As a consequence, the selection of comparison specimens becomes easier: It is sufficient that the specimen under study and the comparison specimen belong to the same isomorphic series and that the intensity of the analytical line of the comparison specimen allows for the measurement with the required accuracy.
Ключевые слова:	metrological characteristics; электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ; методы коррекции; метрологические характеристики; ROCK-forming minerals; correction methods; X-ray electron probe microanalysis; минералы;
Издано:	2021
Физ. характеристика:	с.1477-1482
Цитирование:	1. Королюк В.Н., Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В., Нигматулина Е.Н. О точности электронно-зондового анализа породообразующих минералов на микроанализаторе JXA-8100 // Геология и геофизика, 2008, т. 49 (3), с. 221-225. 2. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Новая версия программы КАРАТ для количественного рентгеноспектрального микроанализа // Журнал аналитической химии, 1994, т. 49, № 5, с. 462-468. 3. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Выбор оптимального метода расчета поправочных факторов при рентгеноспектральном микроанализе породообразующих минералов // Журнал аналитической химии, 1996, т. 51, № 3, с. 323-331. 4. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Теоретические коэффициенты поглощения в рентгеноспектральном микроанализе // Аналитика и контроль, 2016, т. 20, № 1, с. 15-22. 5. Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В., Нигматулина Е.Н. Рентгеноспектральный микроанализ породообразующих минералов на микроанализаторе JXA-8100 // Геология и геофизика, 2015, т. 56 (10), с. 1813-1824. 6. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В., Лаврентьев М.Ю., Карманов Н.С. Поинтервальный расчет коэффициентов поглощения как средство повышения правильности рентгеноспектрального микроанализа // Журнал аналитической химии, 2020, т. 75, № 7, с. 642-648. 7. Малви Т., Скотт В.Д., Рид С., Кокс М.Дж.К., Лав Г. Количественный электронно-зондовый микроанализ / Под ред. В. Скотта, Г. Лава. М., Мир, 1986, 352 с. 8. Chantler C.T. Theoretical form factor, attenuation and scattering tabulation for Z = 1-92 from E = 1-10 eV to E = 0.4-1.0 MeV // J. Phys. Chem. Ref. Data, 1995, v. 24 (1), p. 71-643. 9. Chantler C.T. Detailed tabulation of atomic form factors, photoelectric absorption and scattering cross section, and mass attenuation coefficients in the vicinity of absorption edges in the soft X-ray (Z = 30-36, Z = 60-89, E = 0.1 keV-10 keV), addressing convergence issues of earlier work // J. Phys. Chem. Ref. Data, 2000, v. 29 (4), p. 597-1048. 10. Ebel H., Svagera R., Ebel M., Shaltout A., Hubbel J.H. Numerical description of photoelectric absorption coefficients for fundamental parameter programs // X-Ray Spectrom., 2003, v. 32, p. 442-451. 11. Heinrich K.F.J. X-ray absorption uncertainty // The electron microprobe / Eds. T.D. McKinley, K.F.J. Heinrich, D.B. Wittry. New York, Wiley, 1966, p. 296-377. 12. Heinrich K.F.J. Mass absorption coefficients in electron probe microanalysis // Proceedings of the 11th International Congress on X-ray optics and microanalysis / Eds. J.D. Brown, R.H. Packwood. Ontario, Univ. Press, 1987, p. 67-119. 13. Jarosewich E., Nelen J.A., Norberg J.A. Reference samples for electron microprobe analysis // Geostand. Newslett., 1980, v. 4 (1), p. 43-47. 14. Scofield J.H. Theoretical photoionization cross section from 1 to 1500 keV. Lawrence Livermore Labor. Rep. UCRL-51326, 1973, 373 p.