| Цитирование: | 1. П. Шаген, Достижения в технике передачи и воспроизведения изображений. Т. 1. М.: Мир, 1978.
2. V. Ivanov, Computational Methods, Optimization and Synthesis in Electron Optics. Hmbg: Palmarium Academic Publishing, 2016.
3. J. Linder, These, Ecole Politechnique, Zurich, 1965.
4. J. M. Grant. Proc. Of the Image Intensifiers, 4th Belvoir, Virginia, USA, Oct. 24-26, 63-72 (1961).
5. A. J. Guest, Acta Electronica, 14 (1), 79-97 (1971).
6. A. Einstein, Annalen der Physik, 322 (6), 132-148 (1906).
7. W. E. Spicer, Phys. Rev., 112-114 (1958).
8. W. E. Spicer, J. Appl. Phys., 31, 2077, (1960).
9. L. W James, J. L. Moll, Phys. Rev., 183, 740-753 (1969).
10. L. W. James, J. L. Moll, J. Appl. Phys. 42, 4976 (1971).
11. K. L. Jensen, B. L. Jensen, E. J. Montgomery et al., J. Appl. Phys., 104, 044907-1-4490-10 (2008).
12. A. R. Ettema, Appl. Phys. Lett., 82, 3988-3990 (2003).
13. W. Turner, J. Crow, Appl. Phys. Lett., 11, 187-189 (1967).
14. C. I. Coleman, Appl. Opt. 17, 1789-1796 (1978).
15. J. H. Holtom, J. Phys., D: Appl. Phys., 12, 1169-1180 (1979).
16. R. L. Sutherland, V P Tondiglia, L. V. Natarajan, J. Appl. Phys., 79, 1420-1422 (2001).
17. G. Vergara, A. Herrera-Gomez, W. E. Spicer, Surf. Sci., 435, 83-90 (1999).
18. S. X. Dou, H. K. Liu, Y. C. Guo, Appl. Phys. Lett., 60, 2929-2931 (1992).
19. П. В. Бухаров, Докл. ТУСУРа, 2 (24), 106-109 (2011).
20. М. Р Айнбунд, И. С. Васильев, Е. Г. Вилькин и др., Прикладная физика, 4, 97-101 (2006).
21. И. С. Гибин, Ш. Е. Котляр, Успехи прикл. физики, 5 (5), 497-507 (2017).
22. А. Н. Андронов, Исследование спектральных характеристик современных фотоэмиттеров с отрицательным электронным сродством. СПб.: СПб. гос. политехн. ун-т, 2003.
23. Ю. К. Грузевич, Оптико-электронные приборы ночного видения. М.: Физматлит, 2014.
24. М. Д. Корнеева, В. П. Пономаренко, А. М. Филачев, Прикладная физика, 2, 47 (2011).
25. http://www.silar.ru/spectrals (по данным Photonis-DEP).
26. L. W. James et al., Phys. Rev., 183, 740 (1969).
27. M. J. Weber, Handbook of Optical Materials, Boca Raton: CRC Press, 2003.
28. E. M. Hicks, Nano Lett., 5, 1065 (2005).
29. D. G. Stavenga, S. Foletti, G. Palasantzas et al., Proc. R. Soc. B, 272, 661 (2006).
30. S. Hufner, Photoelectron Spectroscopy: Principles and Applications. Berlin, Springer, 2003.
31. M. Y Amusia, Atomic Photoeffect. N.Y: Plenum Press, 1990.
32. J. R. Howorth, A. L. Harmer, E. W. L. Trawny et al., Appl. Phys. Lett., 23, 123-124 (1973).
33. R. L. Bell, Negative Electron Affinity Devices. Oxford: Clarendon, 1973.
34. J. Berkowitz, Photoabsorbtion, Photoionization and Photoelectron Spectroscopy. London: Academic Press, 1979.
35. O. Karis, X-Ray emission and resonant photoemission studies of absorbate systems and metals, Upsala, 1997.
36. B. P. Aduev, E. D. Aluker, G. M. Belokurov, C. N. Shvayko, Phys. Stat. Sol. B, 208, 137 (1998).
37. V Ivanov, 1st Workshop on Photo-cathodes: 300 nm-500 nm. Chicago, 2009.
38. В. Иванов, Вестник СпбГУ, Сер.10 (4), 14-31 (2011).
39. R. Stuart, F. Wooten, W. E. Spicer, Phys. Rev., 135, A495-A505 (1964).
40. C. R. Crowell, W. G. Spitzer, L. E. Howarth et al., Phys. Rev., 127, 2006-2015 (1962).
41. J. J. Quinn, Phys. Rev. 126, 1453-1457 (1962).
42. В. Т. Астрелин, В. Я. Иванов, Автометрия, 3, 92-99 (1980).
43. X. J. Zhou, B. Wannberg, W. L. Yang et al., J. El. Spectr. Rel. Phen. 142, 27-38 (2005).
44. M. Cardona, L. Ley (Eds). Photoemission in Solids. I. General Principles. Berlin; Heidelberg; New York: Springer (1978).
45. E. Nappi, Nucl. Instr. Meth. A, 604, 190-192 (2009).
46. Р. Дж. Киес. Фотоприемники видимого и ИК-диапазонов. М.: Радио и связь, 1985.
47. http://katodnv.com/ru/catalog/electronno-opticalconverters-3-pokolenya
48. В. Manley, A. Guest, R. Holmshan, Adv. Electr. and Electr. Phys., 28A, 471-486 (1969).
49. Г Чуйко, А. М. Якобсон. Радиотехн. и электроника, 11 (9), 1682-1685 (1966).
50. S. Coeck, M. Beck, B. Delaure et al., Nuclear Instruments and Methods A., 557, 516-522 (2006).
51. Г. С. Кравчук, Н. Б. Леонов, Ю. В. Сень, А. М. Тютиков, Оптико-механическая промышленность, 5, 6-9 (1988).
52. В. Д. Дмитриев, С. М. Лукьянов и др., Приборы и техника эксперимента, 2, 7-18 (1982).
53. Б. Н. Брагин, А. Е. Меламид, Итоги науки и техники. Сер. Электроника и ее применение, 5, 102-133 (1977).
54. Д. К. Саттаров, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. 9-13 (1983).
55. J. T. Bulkwill, Proc. 24th Symp. Art glassflowing. Southfield, Mich, 1979, Toledo, Ohio, 68-78 (1979).
56. Г Т. Петровский, С. К. Кулов, В. Х. Ягмуров, З. И. Канчиев, Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 220-224 (1990).
57. Г Т. Петровский, Д. К. Саттаров, З. И. Канчиев, В. А. Кутасов, Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф., М., 41, 53-55 (1985).
58. С. К. Кулов, Электроные приборы и системы в промышленности: Тез. докл. Республ. науч. конф., Владикавказ, 133-135 (1994).
59. З. И. Канчиев, С. К. Кулов, В. А. Кутасов и др., Оптический журнал, 1, 64-69 (1993).
60. С. К. Кулов, Системные основы технологии МКП, Владикавказ, 1999.
61. С. К. Кулов, Микроканальные пластины. Владикавказ, 2000.
62. D. R. Beaulieu et al., AVS Topical Conf. on Atomic Layer Deposition, ALD 2009, Monterey, CA, July 19-22 (2009).
63. С. К. Кулов, Микроканальные пластины, Владикавказ (2005).
64. С. К. Кулов, Разрешающая способность МКП, Владикавказ (2006).
65. С. К. Кулов, Микроканальные пластины для ЭОП, Владикавказ (2007).
66. С. К. Кулов, Технология микроканальных пластин. Ч. 1. Системные основы технологии, Владикавказ (2006).
67. С. К. Кулов, Технология микроканальных пластин. Ч. 2. Рабочие стекла МКПО, Владикавказ (2006).
68. С. К. Кулов, Элементы физической химии в технологии МКП, Владикавказ (2005).
69. С. К. Кулов, Г. П. Романов, Г. Т. Петровский, М. Н. Попов, Электронная промышленность, 3, 13-17 (1989).
70. С. К. Кулов, Технология микроканальных пластин. 4.2. Рабочие стекла МКПО, Владикавказ (2000).
71. Л. A. Гречаник, И. И. Зайдель, JI. H. Иванова и др., Оптико-механическая промышленность, 1, 41-44 (1973).
72. Л. A. Гречаник, И. З. Терпогосова, Р Х. Кутепова, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф., М., 13-16 (1983).
73. В. Н. Полухин, Н. В. Лобанова, A. M. Тютиков, В. Г. Русан, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. науч.-техн. конф. М., 1619 (1983).
74. A. M. Тютиков, М. Н. Тоисева, В. Н. Полухин и др., Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 41, 19-22 (1983).
75. Л. A. Гречаник, И. З. Терпогосова, Р Х. Кутепова и др., Электронная техника, Сер. Материалы, 6 (205), 32-35 (1985).
76. Л. A. Гречаник, И. З. Терпогосова, С. Ф. Козлевский и др., Электронная техника, Сер. Материалы, 12, 45-49 (1984).
77. Б. В. Татаринцев, В. Н. Полухин, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф., М., 42, 34-36 (1985).
78. Л. A. Гречаник, Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 41, 43-44 (1985).
79. В. Н. Полухин, Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 41, 63-65 (1985).
80. В. Я. Алаев, А. К. Погодаев и др., Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 41, 69 (1985).
81. Б. В. Татаринцев, С. Э. Шепурев, Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 234 (1990).
82. Б. В. Татаринцев, В. Я. Алаев, Физика и химия стекла, 16 (2), 228-233 (1990).
83. Г. Т. Петровский, З. И. Канчиев, Д. К. Саттаров и др., Журнал прикладной химии, 31 (5), 1210-1216 (1980).
84. Б. В. Татаринцев, Физика и химия стекла, 10 (4), 73-82 (1984).
85. Б. В. Татаринцев, Н. В. Полозок, И. О. Баранова, Физика и химия стекла, 14 (5) 691-698 (1988).
86. С. А. Степанов, Т. М. Подольская, Т. Н. Сорокина, Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 232 (1990).
87. С. А. Кесаев, С. К. Кулов, Е. Н. Макаров и др., Труды СКГТУ, 7(2). Владикавказ, 105-111 (2000).
88. Т. Д. Алкацева, С. К. Кулов, Электронные приборы и системы в промышленности: Тез. докл. Республ. науч. конф. Владикавказ, 144-145 (1994).
89. Т. Д. Алкацева, С. К. Кулов, В. А. Попова, Е. Н. Козырев и др., НТК, посвященная 50-летию НИС СКГМИ (тезисы докладов). Орджоникидзе, 23 (1988).
90. Т. Д. Алкацева, С. К. Кулов, НТК, посвященная 60-летию НИС СКГТУ (сб. статей). Владикавказ, 41-43 (1999).
91. Е. Н. Макаров, Т. Д. Алкацева, С. А. Кесаев, С. К. Кулов, Труды СКГТУ, 7 (2), 90-96 (2000).
92. С. А. Кесаев, С. К. Кулов, Е. Н. Макаров и др., Труды СКГТУ, 7 (2), 100-104 (2000).
93. С. К. Кулов, Шумы микроканальных ЭОП. Владикавказ, 2000.
94. Т. Д. Алкацева, А. Ю. Гаврилов, С. К. Кулов и др., Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 102-103 (1993).
95. Т. Д. Алкацева, С. К. Кулов, И. Р. Сланова и др., Сотовая структура электронного избра-жения МКП (аналитический отчет), Владикавказ, 1998.
96. Т. Д. Алкацева, С. К. Кулов, С. А. Кесаев и др., Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1. Владикавказ, 110-115 (2002).
97. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Вакуумная электроника на Северном Кавказе: региональная конференция, тезисы докладов. Нальчик, 26-27 (2001).
98. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Вакуумная электроника на Северном Кавказе: региональная конференция, тезисы докладов. Нальчик, 30-31 (2001).
99. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Вакуумная электроника на Северном Кавказе: региональная конференция, тезисы докладов. Нальчик, 31-32 (2001).
100. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Исследование разрешающей способности МКП с диаметром каналов 6 мкм, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1, Владикавказ, 190-195 (2002).
101. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1, Владикавказ, 196-200 (2002).
102. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1, Владикавказ, 144-147 (2002).
103. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1, Владикавказ, 153-165 (2002).
104. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Ю. Л. Пергаменцев, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1, Владикавказ, 137-143 (2002).
105. С. К. Кулов, Разрешение МКП. Владикавказ, 2000.
106. Т. Д. Алкацева, С. К. Кулов, В. А. Попова, Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 278 (1990).
107. F. A. Badawy, Optimization of Microchannel Geometries to Enhance Convection Cooling of Parallel Plate Duct Flow. Baghdad, 2013.
108. К. Ю. Ахполов, Топология торцевых поверхностей МКПО. Владикавказ, 2005.
109. С. К. Кулов, Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 68-70 (1985).
110. С. К. Кулов, Е. Н. Макаров, А. Ф. Еремина и др., Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 263-264 (1990).
111. С. К. Кулов, В. М. Пашков, М. Н. Попов и др., Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 15-16 (1985).
112. Д. К. Саттаров, К. П. Печорская, Г. Я. Канаева и др., Волоконная оптика, 3 (2), 61-74 (1975).
113. Г Т. Петровский, Д. К. Саттаров, С. В. Державин, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 103-105, 1983.
114. З. И. Канчиев, Б. В. Татаринцев, Волоконная оптика: Сб. тезисов научн. конф., 122-123 (1993).
115. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Е. Н. Макаров, Б. Г. Попугаев, Вакуумная электроника на Северном Кавказе, региональная конф., тез. докл. Нальчик, 27-28 (2001).
116. D. C. Joy, A model for calculating secondary and backscattering electron yields, J. Microscopy, 147, 51-64 (1987).
117. M. Baroody, A theory of secondary emission from metals, Phys. Rev., 78, 780-787 (1950).
118. R. G. Lye, A. J. Dekker, Theory of secondary emission, Phys. Rev., 107, 977-981 (1957).
119. J. Rodney, M. A Vaughan, IEEE Transactions on Electron Devices. September, 36 (9), 1963- 1967 (1989).
120. B. K. Agarwal, Variation of secondary emission with primary electron energy, Proc. Phys. Soc., 71, 851-852 (1958).
121. H. Seiler, Secondary electron emission in the scanning electron microscope, J. Appl. Phys., 54, R1-R18 (1983).
122. I. M. Bronstein, B. S. Fraiman, Secondary electron emission, Moscow: Nauka, 1969.
123. А. Р Шульман, С. А. Фридрихов, Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела. М.: Наука, 1977.
124. Г Брюининг, Физика и применение вторичной электронной эмиссии, М.: Советское радио, 1958.
125. L. M. Bollinger, G. E. Thomas, Rev. Sci. Instrum. 32, 1044-1050 (1961).
126. P P. Gonzalez-Borrero, F. Sato, A. N. Medina, et al., Appl. Phys. Lett., 96, 061909 (2010).
127. K. Kanaya, S. Ono, F. Ishigaki, J. Phys. D: Appl. Phys., 11, 2425-2437 (1978).
128. P. H. Dawson, J. Appl. Phys, 37, 3644-3645 (1966).
129. N. B. Gornyi, Secondary electron emission for different faces of Zn single crystal with crystalline zinc oxide films, JETP, 26, 88-97 (1954).
130. N. R. Whetten, A. B. Laponsky, J. Appl. Phys., 28, 515 (1957).
131. A. J. Dekker, Solid State Phys., 6, 251-311 (1958).
132. J. Adams, B. W. Manley, IEEE Trans. Nucl. Science., 5, 88-99 (1966).
133. G. Eschard, B. W. Manley, Acta Electronics, 14 (1), 19-39 (1971).
134. M. A. Furman, M.T. F. Pivi, Probabilistic model for the simulation of secondary electron emission, Phys. Rev., ST AB 5, 124404 (2002).
135. K. Yasuda, J. M. Kim, M. Yasuda, K. Fujimoto, Jpn. J. Appl. Phys. В., 1 (43), 2277-2282 (2004).
136. А. Г Афанасьев, И. M. Бронштейн, Изв. АН СССР, Сер. физ., 37 (12), 2492 (1973).
137. А. Г Афанасьев, И. M. Бронштейн, ФТТ, 18, 1129 (1976).
138. А. Р Шульман, С. А. Фридрихов, Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела. M.: Радио, 1977.
139. И. M. Бронштейн, В. M. Стожаров, Изв. АН СССР, Сер. физ., 43 (3), 500 (1979).
140. В. В. Кораблев, А. А. Mайоров, Изв. АН СССР, Сер. физ., 43 (3), 635 (1979).
141. Косида, Хособути, Приборы для научных исследований (пер. с англ.), 7, 23-26 (1985).
142. Косида, Приборы для научных исследований (пер. с англ.), 3, 30-34 (1986).
143. A. M. Тютиков, Л. Б. Цой. Оптико-механическая промышленность, 2, 20 (1976).
144. И. М. Бронштейн, А. В. Евдокимов, В. М. Стожаров, A. M. Тютиков, Радиотехника и электроника, 24 (4), 871-874 (1979).
145. И. М. Бронштейн, В. П. Пронин, В. М. Стожаров, Радиотехника и электроника, 6, 1243-1248 (1973).
146. Ю.Н. Улько, Е. А. Файнберг, Электронная техника, серия X, 4, 51-57 (1966).
147. Ю. Н. Улько, Е. А. Файнберг, Неорганические материалы, 7 (2), 345-347 (1998).
148. Ю. Н. Улько, Е. А. Файнберг, Стеклообразное состояние, Ереван, 186-189 (1970).
149. Ю. Н. Улько, Электронная техника, Сер. Материалы, 1, 87-94 (1975).
150. A. Authinarayanak, R. W. Dudding, Adv. Electr. And Electron Phys., 40A, 167-181 (1976).
151. G. E. Hill, Secondary electron emission and compositional studies on channel plate glass surfaces. Adv.Electr. Electr. Phys., 40A, p. 153-165 (1976).
152. G. Blasek, H. Shmidt, Experimentelle Technik der Physik, 1, 65-69 (1979).
153. A. M. Тютиков, H. B. Королев, M. H. Тоисева и др., Оптико-механическая промышленность, 4, 11-13 (1980).
154. Н. Б. Леонов, A. M. Тютиков и др., Физика и химия стекла, 10 (5), 686-690 (1984).
155. Н. Б. Леонов, А. С. Волков, Т. М. Подольская и др., Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф., М., 1, 24 (1985).
156. Ю. М. Симеонова, И. С. Куртев, Доклады Болгарской академии наук, 4 (11), 57-58 (1988).
157. А. И. Гусаров, В. А. Машков, A. M. Тютиков, Физика и химия стекла, 13 (1), 34-38, (1987).
158. Н. Б. Леонов, А. С. Волков, С. В., Физика и химия стекла, 14 (5), 686-690 (1988).
159. A. M. Артамонов, С. А. Елисеев, О. Е. Мулар и др., Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 237 (1990).
160. А. И. Гусаров, В. А. Машков, С. В. Мурашов и др., Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 231 (1990).
161. А. Д. Шахмин, Т. М. Подольская, Т. Н. Сорокина и др., Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 112 (1993).
162. Г. А. Чуйко, Е. А. Файнберг, И. В. Сиприков, JI.A. Гречаник, Изв. АН СССР, Сер. Физическая, 28 (9), 1516-1521 (1964).
163. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1. Владикавказ, 175-181 (2002).
164. С. К. Кулов, Вторичная электронная эмиссия восстановленных свинцово-силикатных стекол. Владикавказ, 2000.
165. И. М. Бронштейн, А. В. Евдокимов, В. М. Стожаров, А. М. Тютиков, Радиотехн. и электроника, 23 (6), 1315-1317 (1978).
166. M. Tutikov et al., Sov. J. Opt. Technol. 50, 7, 392-395 (1991).
167. P. M. Shikhalev, Nucl. Inst. Meth., A420, 202-212 (1999).
168. G. J. Price, G. W. Fraser, Nucl. Inst. Meth., A474, 188-196 (2001).
169. G. W. Fraser et al., IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-30, 1, 455-460 (1983).
170. Р. Зурман, Успехи физических наук, XVI (2), 199 (1936).
171. Н. Ф. Кощавцев, А. Н. Кощавцев, С. Ф. Федотова, Прикладная физика, 3, 66 (1999).
172. Н. А. Березкин, C. Ю. Меркин, Н. Н. Москвина, Р М. Степанов, Прикладная физика, 4, 101 (2006).
173. М. Р Айнбунд, И. С. Васильев, Е. Г. Вилькин и др., Прикладная физика, 4, 97 (2006).
174. Н. А. Соболева, Успехи физических наук, 111 (2), 331 (1973).
175. М. О. Искандаров, Научное приборостроение, 25 (4), 67 (2015).
176. Y. Lin, D. C. Joy, A new examination of secondary electron yield data, Surf. Interface Anal., 37, 895-900 (2005).
177. V Baglin, J. Bojko, O. Grbneret et al., Proc. of EPAC 2000, Vienna, Austria, 217-221 (2000).
178. R. O. Lane, D. I. Zaffarano, Phys. Rev., 94, 960-964 (1954).
179. K. Ohya, I. Mori, J. Phys. Soc. Jpn., 59, 1506-1517 (1990).
180. J. R. Young, Phys. Rev., 103, 292-293 (1956).
181. C. Barat, J. Coutelier, NIM A, 140, 87-92 (1977).
182. В. Л. Борисов, А. В. Досягаев, Радиотехника и электроника, 6, 1084-1085 (1973).
183. D. C. Joy, Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis, Oxford University Press (1995).
184. P Hovington et al., Scanning, 19, 1-14 (1997).
185. A. L. Pregenzer, Nucl. Inst. Meth. B., 6, 562-565 (1985).
186. L. Reimer, D. Stelter, Scanning, 8, 265-277 (1986).
187. J. Kawata, K. Ohya, K. Nishimura, J. Nucl. Mater., 220-222, 997-1000 (1995).
188. M. Ito, H. Kume, K. Oba, IEEE Trans., NS-31, 408-412 (1984).
189. K. Murata, Scann. Microscopy, 12, 412-417 (1995).
190. В. Н. Евдокимов, А. А. Кудря, А. М. Тютиков и др., Радиотехн. и электроника, 29 (2), 390-396 (1984).
191. В. Н. Евдокимов, А. В. Шиманская, Радиотехн. и электроника, 32 (4), 660-662 (1987).
192. K. Ohya, I. Mori, J. of Physical Socity, Japan., 59, 1506-1517 (1990).
193. V Ivanov, Computational Accelerator Physics Conf. ICAP'09 (2009).
194. Z. Insepov, V. Ivanov, France. NIM B, 268, 3315-3320 (2010).
195. Z. Insepov, V. Ivanov, H. Frisch, NIM B, 268, 3315-3320 (2010).
196. Z. Insepov, V. Ivanov, S. J. Jokela et al., NIM A, 639, 155-157 (2011).
197. Z. Insepov, V. Ivanov, S. Jokela, M. Wetstein, PAC'11, March 28-April 1, 2011, New York, USA (2011).
198. F. Salvat, J. M. Fernandez-Varea, J. Sempau (Eds) PENELOPE-2006. A Code System for Monte Carlo Simulation of Electron and Photon Transport: Workshop Proceedings, Barcelona, Spain, 4-7 July 2006. Barcelona, Nuclear Energy Agency, 293 (2006).
199. «CASCADE» code (www.arradiance.com).
200. J. A. Anderson, K. Byrum, G. Drake et al., IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 30354, 2478-2481 (2008).
201. D. E. Cullen, J. H. Hubbell, L. Kissel, Report UCRL-50400, 6 (5), Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, CA (1997).
202. Y. Ushio, T. Banno, N. Matuda et al., Thin Solid Films, 167, 299 (1988).
203. O. L. Landen, P. M. Bell, J. A. Oertel et al., Proc. SPIE 2002, 1-13 (1993).
204. T. H. Hoenderken, C. W. Hagen, J. E., J. Vac. Sci. Technol. B., 19 (3), 843-850 (2001).
205. О. Н. W. Siegmund, A. Tremsin, J. V. Vallerga, J. Hull, Science Symposium Conference Record, 2000, 1, 75-75 (2000).
206. A. S. Tremsin, O. S. W. Siegmund, J. V Vallerga, In Nuclear Science Symposium Conference Record, 3, 1610-1614 (2004).
207. D. V Kasle, United State Patent, 5, 396, 073. Date of patent - Mar. 7, 1995.
208. A. Czasch, J. Milnes, N. Hay et al., NIM A, 580, 1066-1070 (2007).
209. O. Jagutzki, A. Cerezo, A. Czasch et al., In Nuclear Science Symposium Conference Record, 2001, 2, 850-854 (2001).
210. JI. C. Трофимова, Д. К. Саттаров, Г Я. Конаева, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф., М., 69-72 (1983).
211. Ю. В. Куликов, Радиотехн. и светотехника, 4, 376-380 (1967).
212. А. V Shimanskaya, V. N. Evdokimov, Sov. J. Opt. Technol., 52 (7), 393-394 (1985).
213. Ю. В. Сень, Н. Б. Леонов, Г С. Кравчук и др., ОМП, 11, 4-6 (1983).
214. Ю. В. Сень, Н. Б. Леонов, Г С. Кравчук и др., ОМП (2006).
215. Д. Барб, С. Кэман, Полупроводниковые формирователи сигналов изображения, пер. с англ., М., Мир (1979).
216. Л. И. Басяева, Н. И. Плетнева, Е. П. Семенов, ОМП, 1, 8-11 (1972).
217. В. Н. Евдокимов, А. А. Кудря, A. M. Тютиков и др., Радиотехника и электроника, 2 (2), 390 (1984).
218. Ling Ren, Feng Shi, Hui Guo et al., Appl. Optics, 52, 1641-1645 (2013).
219. M. Estribeau, P. Magnan, SUPAERO (2009).
220. V G. Debur, G. M. Beskin, S. V Karpov et al., Astrophysical Bulletin, 64 (4), 386-391 (2009).
221. J.-A. Spitz, R. Yasukuni, N. Sandeau et al., Microsc., 229, 106-107 (2008).
222. A. S. Tremsin, G. V Lebedev, O. H. W. Siegmund et al., NIM A, 582, 172-174 (2007).
223. Ю. В. Куликов, Радиотехн. и электроника, 20 (6), 124-125 (1975).
224. V. Ivanov. The Code «Micro Channel Plate Simulator»: User's Guide, Muons, Inc. (2009).
225. В. Я. Иванов. Методы автоматизированного проектирования приборов электроники. Ч. 1: Методы расчета физических полей, Новосибирск, Изд-во Ин-та математики, 194 (1986).
226. В. Я. Иванов. Методы автоматизированного проектирования приборов электроники. Ч. 2: Методы математического моделирования задач электронной оптики, Новосибирск,Изд-во Ин-та математики, 254 (1986).
227. V. Ivanov, Open Academic J. of Advanced Science and Technology, 1 (1), 42-44 (2017).
228. V. Ivanov, Z. Insepov, MCP Simulations: State of the Art, Pico-Second Workshop VII, The Development of Large-Area Pico-second Photo-Devices, February 26-28, 2009; Argonne National Lab. (2009).
229. V. Ivanov, T. J. Roberts, R. Abrams, H. Frisch, Large Area Photo-detectors with millimeter and picosecond Resolution: Simulations, PAC'09, 4-8 May, Vancouver, Canada (2009).
230. V. Ivanov, Y. Kulikov, IX Seminar on Theoretical & Applied Electron & Ion Optics, Moscow (2009).
231. V. Ivanov, R. Abrams, T. Roberts et al., IX Seminar on Theoretical & Applied Electron & Ion Optics. Moscow (2009)
232. http://www.comsol.com/comsol-multiphysics.
233. V. Ivanov, Z. Insepov, S. Antipov, NIM A, 639, 158-161 (2011).
234. V. Ivanov, A. Barnyakov et al., JINST, 12, 09024 (2017).
235. A. S. Tremsin, J. F. Pearson, G. W. Fraser et al., NIM A, 379, 139-152 (1996).
236. С. Loty, Acta Electronics, I 4, 107-119 (1971).
237. Е. Н. Козырев, И. Н. Гончаров, И. А. Маркина, Изв. вузов. Северо-кавказский регион, 4, 38-41 (2007).
238. А. Б. Беркин, В. В. Васильев, Письма в ЖТФ, 78(2), 127-129 (2008).
239. M. Wetstein, B. Adams, M. Chollet et al., 2nd Int. Conf. on Technology and Instrumentation in Particle Physics, 9-14 June 2011, Chicago, IL, USA (2011).
240. А. B. Berkin, V V. Vasil'yev, Techn. Phys. Lett., 33, 664-666 (2007).
241. A. B. Berkin, V V. Vasil'ev, Zhurn. Techn. Fiziki, 78, 2, 130-133 (2008).
242. Б. А. Брусиловский. Кинетическая ионно-электрическая эмиссия, М., Энергоатомиздат (1990).
243. V Ivanov, 7th Int. Workshop on Ring Imaging Cherenkov Detectors, Cassis, Provence, France (2010).
244. S. Agostinelli (Geant4 Collaboration), NIM A, 506 (3), 250 (2003).
245. J. Allison (Geant4 Collaboration), IEEE Transactions on Nuclear Science, 53, 270 (2006).
246. J. Allison (Geant4 Collaboration), NIM A, 835, 186 (2016).
247. E. Hantzsche, Beitrage aus der Plasmaphysik, 4, 165-208 (1964).
248. V Shiltsev, Proc. PAC 07. Albuquerque, New Mexico, USA, 1159-1160 (2007).
249. И. Р Петрова, Ю. А. Флегонтов, Оптико-механическая промышленность, 4, 16-19 (1988).
250. Н. Б. Леонов, A. M. Тютиков, Оптико-механическая промышленность, 2, 1013 (1983).
251. Н. Б. Леонов, A. M. Тютиков, И. А. Единова, Оптико-механическая промышленность, 3, 9-11 (1989).
252. Н. Б. Леонов, A. M. Тютиков, М. Н. Тоисева, Л. А. Черезова, Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф., М., 73-76 (1983).
253. В. Н. Евдокимов, A. M. Тютиков, Ю. А. Флегонтов, A. Шиманская, Радиотехника и электроника, 3, 601-605 (1989).
254. С. К. Кулов, С. А. Кесаев, Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), Владикавказ, 1, 201-206 (2002).
255. A. S. Tremsin, Proc. SPIE, 2808, 86-97 (1996).
256. A. S. Tremsin, Rev. Sci. Instr., 75, 1068-1072 (2004).
257. A. S. Tremsin, F. R. Mildner, W. B. Feller, R. G. Downing, IEEE Nuclear Science Symp. and Medical Imaging Conf. Portland, Oregon, Oct., 1143-1147 (2003).
258. A. S. Tremsin, Nuclear Instruments and Methods A, 539(1-2), 278-311 (1988).
259. A. S. Tremsin, H. F. Lockwood, D. R. Beaulieu et al., Physics Procedia, 1, 565-572 (2008).
260. Е. А. Чудковска, Вестник БГУ, Сер. 1, 1, 39-43 (2014).
261. C. Зи. Физика полупроводниковых приборов: в 2 т. М., 1 (1984).
262. В. А. Извозчиков, О. А. Тимофеев. Фотопроводящие окислы свинца в электронике. Л. (1979).
263. В. Л. Бонч-Бруевич, С. Г. Калашников. Физика полупроводников. М.: Радио (1990).
264. N. A. Poklonski, V. F. Stelmakh, V. D. Tkachev, S. V. Voitikov, Phys. St. Sol. (B), 88 (2), k165-k168 (1978).
265. Дж Блекмор. Статистика электронов в полупроводниках. М., Радио (1964).
266. V V. Apanasovich, E. A. Chudovskaja, Proceedings of the 21st International Conference on Microelectronics. Nish, 1, 103-106 (1997).
267. И. Н. Гончаров, Изв. вузов. Северо-Кавказский регион. Техн. науки, 5, 32-36 (2008).
268. В. В. Апанасович, Е. А. Чудовская, Радиофизика и электроника, 3, 124-127 (1997).
269. B. W. Adams, J. T. Anderson, K. Attenkofer et al., 16th IEEE-NPSS Real Time Conference, 10-15 May, 2009. Beijing, China. Proc., 49-61 (2009).
270. B. W. Adams, K. Attenkofera, M. Bogdan et al., A Brief Technical History of the Large-Area Picosecond Photodetector (LAPPD) collaborations. Preprint of JINST 6 March (2016). arX-iv:1603.01843 [physics.ins-det].
271. J. W. Elam, G. Xiong, C. Y. Han et al., Journal of Nanomaterials, 1-5 (2006).
272. J. W. Elam, J. A. Libera, M. J. Pellin, P. C. Stair, Appl. Physics Letters, 91 (24) (2007).
273. http://www.synkera.com.
274. http://www.industrial-lasers.com/display article/330518/39/none/none/eat/Laserglass-cut-ting-in-flat-panel-display production.
275. J.-F. Genat, G. Varner, F. Tang, H. J. Frisch, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 607, 387-393 (2009).
276. J.-F. Genat, K. Byrum, H. J. Frisch et al., 1st Workshop on Photocathodes (2009).
277. Photonis/Burle Industries, 1000 New Holland Ave., Lancaster PA, 17601. http://www.photonis. com/industryscience/products/microchannel.
278. http://sales.hamamatsu.com/en/products/electron-tubedivision/ detectors/microchannel-platesmcps.
279. http://www. arradiance.com/Index_Files/ALD_Coatings.htm
280. A. U. Mane, W. M. Tong, A. D. Brodie et al., ECSTransactions, 64 (9), 3-14 (2014).
281. S. J. Jokela, I. V. Veryovkin, A. V. Zinovev, J. W. Elam, A. U. Mane, Q. Peng, Z. Insepov et al., Physics Procedia, 37, 740 (2012).
282. O. H. W. Siegmund, J. B. McPhate et al., JINST 9 C 04002, 1748-0221 (2014).
283. V. Ivanov, Numerical Models in Simulation of Large-area Fast Photo Detectors, XVI Int. Workshop: Beam Dynamics & Optimization, June 28-30, 2010, St. Petersburg, Russia.
284. Z. Insepov, V Ivanov, J. Elam et al., Emission Materials, Nuclear Science Symposium, Oct. 30-Nov. 6, Knoxville, Tennessee (2010).
285. В. Я. Иванов, Всероссийская конференция «Актуальные проблемы вычислительной математики и математического моделирования», 12-15 июня 2012, Новосибирск (2012).
286. В. Я. Иванов, Успехи прикладной физики, 1 (5), 585-591 (2013).
287. http://annie.uchicago.edu/lib/exe/fetch.php?media=pacmeeting_v2.1.pdf.
288. J. A. Victoreen, J. Appl. Phys., 20, 1141-1147 (1949).
289. B. Adams, Z. Insepov, V. Ivanov, J. Norem, Proc. IPAC'12, 20-25 May, 2012, New Orleans, USA, 939-941 (2012).
290. G. W. Fraser, IEEE Tr. on Nucl. Science, NS-30 (1), 455-460 (1983).
291. G. A. Rochau, J. E. Bailey, G. A. Chandler, Rev. Sci. Instr., 77, 10E323-1-10E323-4 (2006).
292. M. Katayama, Rev. Sci. Instr., 62, 124-129 (1992).
293. C. M. Lederer, V S. Shirley, eds., Table of Isotopes, 7th ed. Wiley, New York (1978).
294. V. N. Shemelev, E. P Savinov, Solid St. Phys., 40(6), 1042-1046.
295. http://katodnv.com/ru
296. M. Barnyakov, A. Buzykaev, A. Daniluk et al., NIM A, 419, 584-589 (1988).
297. A. Barnyakov, M. Barnyakov, V Bobrovnikov et al., NIM A, 567, 17-20 (2006).
298. A. Barnyakov, M. Barnyakov, V Barutkin et al., INIM A, 572, 404-407 (2007).
299. A. Barnyakov, M. Barnyakov, V Barutkin et al., NIM A, 598, 160-162 (2009).
300. A. Barnyakov, M. Barnyakov, V Prisekin et al., NIM A, 845, 588-590 (2017).
301. A. Barnyakov et al., JINST, 12, C09013 (2017).
302. A. Barnyakov, M. Barnyakov, V Blinov et al., JINST, 12, P09036 (2017).
303. V. Ivanov, A. Barnyakov, M. Barnyakov et al., JINST, 12, P09024 (2017).
304. В. Я. Иванов, Сб. статей IV Всероссийской конф. «Электроника и микроэлектроника СВЧ», СПб., 136-140 (2017).
305. A. Lehmann, Performance studies of microchannel plate PMTs in high magnetic fields, NIM, A 595, 173 (2008).
306. A. Lehmann, A. Britting, W. Eyrich, F. Uhlig, JINST, 4, P11024 (2009).
307. A. Lehmann, NIM A, 639, 144 (2011).
308. M. Akatsu, Y. Enari, K. Hayasaka et al., NIM A, 528, 763-775 (2004).
309. E. Morenzoni, K. Oba, E. Pedroni, D. Taqqu, NIMA, 263 (2-3), 397-400 (1988).
310. J. Xie, M. Hattawy, M. Chiu et al., NIM A, 912, 85-89 (2018).
311. A. Del Dotto, C.-P Wong, L. Allison et al., Design and R&D of RICH detectors for EIC experiments, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 876, 237-240 (2017).
312. G. Kalicy, JINST, 11, C07015 (2016).
313. M. Minot, NIM A, 787, 78 (2015).
314. J. Xie, K. Byrum, M. Demarteau et al., Proc. PoS, 233, 4 (2014).
315. J. Xie, K. Byrum, M. Demarteau et al., NIM A, 784, 242 (2015).
316. J. Wang, NIM. A, 804, 84 (2015).
317. J. Wang, IEEE Trans. Nucl. Sci., 64, 1871 (2017).
318. C. Craven, B. W. Adams, M. J. Aviles et al., Proc. of International Conference on Technology and Instrumentation in Particle Physics-2017, 2, Springer Proceedings in Physics, 213, 319-324 (2018).
319. L. Xia, Patent 9704900 B 1, July 11, (2017).
320. Y. Ilieva, MCP-PMT studies at the High-B test facility at Jefferson Lab, JINST 11, C 03061 (2016).
321. S. Cova, M. Bertolaccini, C. Bussolati, Phys. Stat. Sol., 18, 11-61 (1973).
322. W. Becker. Advanced Time-Correlated Singe Photon Counting Technique, Springer-Verlag, Berlin (2005).
323. W. Becker, A. Bergmann, M. A. Hink et al., Micr. Res. Techn., 63, 58-66 (2004).
324. W. Becker, A. Bergmann, G. Biscotti et al., Proc. SPIE, 5323, 27-36 (2004).
325. W. Becker, Advanced time-correlated single-photon counting techniques. Springer, Berlin, Heidelberg, New York (2005).
326. R. R. Duncan, A. Bergmann, M. A. Cousin et al., J. Microsc. 215(1), 1-12 (2004).
327. J. S. Massa, G. S. Buller, A. C. Walker et al., Appl. Opt., 37(31), 7298-7304 (1998).
328. D.V O'Connor, D. Phillips, Time Correlated Single Photon Counting, Academic Press, London (1984).
329. S. Felekyan, R. Kuhnemuth, V. Kudryavtsev et al., Rev. Sci. Instrum., 76, 083104 (2005).
330. W. Chong, D. Huasong, S. Zhijia, Nuclear Scienceamd Technologies, 20, 344-348 (2009).
331. J. Xia, S. Qian, Z. Ning et al., Research on the time response of multiplier tubes. Pos (EPS-HEP2015)241.
332. P. Namwongsa, A. Banjongkan, X. Chen et al., The 3rd Int. Conf. on Sciemce, Application and Technology of Xenon Radiation Detectors, April 3-7, 2017, Thailand (2017).
333. Е. П. Семенов, Оптико-механическая промышленность, 5, 48 (1987).
334. R. M Dean, L. A. Wilson, D. Rusby, A. Alejo et al., J. of X-Ray Sci. and Technol., 23, 791-797 (2015).
335. В. Г. де-Бур, Г. М. Бескин, С. В. Карпов и др., Астрофизический бюллетень, 6 (4), 404-419 (2009).
336. B. N. Laprade, Proc. SPIE, 2008, 72-85 (1996).
337. O. W. Siegmund, www.stsci.edu/stsci/meetings/space_detectors/ossyrew.htm.
338. Г. С. Кравчук, И. Р. Петрова, Ю. В. Сень и др., Оптико-механическая промышленность, 7, 19-20 (1988).
339. M. Ito, H. Kume, K. Oba, IEEE Trans. NS-31, 408-412 (1984).
340. J. R. Young, Penetration of electrons in Al2O3-films, Phys. Rev. 103, 292-293 (1956).
341. M. Bradbury, R. Mirzoyan, J. Gebauer et al., NIM A 387, 45-49 (1997).
342. В. П. Бегучев, И. Д. Бурлаков. Приборы ночного видения, М., МИРЭА (2015).
343. C. Johnson, The Role of Night Vision Equipment in Military Incidents and Accidents, Glasgow (2007).
344. П. Шаген, Достижения в технике передачи и воспроизведения изображений, М., Мир, I, 13-87 (1978).
345. Б. И. Брагин, А. Е. Меламид, Итоги науки и техники, Сер. Электроника и ее применение, II, 35 (1979).
346. M. Lampton, Sci. Amer, 245 (5), 46-47 (1981).
347. Н. И. Плетнева, Д. К. Саттаров, Е. П. Семенов, Оптико-механическая промышленность, 1, 63-71 (1976).
348. Н. К. Pollehn, АррЬ Optics A. Optical engineering, 6, 342-393 (1980).
349. M. Fouassir, C. Piaget, E. Roaux, Photoelectric Imaging, London, 9-12 (1985).
350. A. M. Тютиков, Г С. Кравчук, Приборы и техника эксперимента, 9, 193-196 (19хх).
351. Г. С. Кравчук, И. Р Петрова, A. M. Тютиков и др., Оптико-механическая промышленность, 7, 1920 (1988).
352. P. B. Soul, Nuclear Instruments and Methods, 97 (3), 555-556 (1971).
353. J. L. Wiza, NIM A, 162 (1-3), 587-601 (1979).
354. С. К. Кулов, Е. Н. Козырев, Е. Н. Макаров и др. Микроканальные пластины в технике ночного видения. Теория, технология, применение. Владикавказ, Терек (2002).
355. T. Iijima, I. Adachi, R. Enomoto et al., NIM A, 453, 321-325 (2000).
356. A. Barnyakov, M. Barnyakov, V Bobrovnikov et al., NIM A, 786, 235-236 (2014).
357. T. Hom, H. Mcrtchyan, S. Ali et al., JINST (2016) arXiv:1607.05264 [physics.ins-det].
358. H. G. Nam, M. S. Shin, K. H. Cha et al., Journal of the Korean Physical Society, 48, 6, 1514-1519 (2006).
359. G. F. Knoll, Ch. 13 in Radiation Detection and Measurement, John Wiley and Sons, New York (1979).
360. G. Beck, G. Viehhauser, NIM A, 618, 131-138 (2010).
361. A. Nomerotski, JINST, 8, P04004 (2013).
362. E. Belau, NIM A, 214, 253-260 (1983).
363. H. Bichsel, Straggling in thin silicon detectors, Rev. Mod. Phys., 60, 663-699 (1988).
364. H. Spieler, Semiconductor Detector Systems. Oxford Science Publications (2005).
365. L. Rossi, P Fischer, T. Rohe, and N. Wermes, Pixel detectors: From fundamentals to Applications. Springer (2006).
366. G. Lindstrom, NIM A, 466, 308-326 (2001).
367. G. Lutz, Semiconductor Radiation Detectors. Springer (1999).
368. C. Jacobini, C. Canali, G. Ottaviani, A. Guaranta, Solid-State electronics, 20, 77-89 (1977).
|