Инд. авторы:	Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В.
Заглавие:	К вопросу об учете матричного эффекта при рентгеноспектральном микроанализе породообразующих минералов
Библ. ссылка:	Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. К вопросу об учете матричного эффекта при рентгеноспектральном микроанализе породообразующих минералов // Журнал аналитической химии. - 2018. - Т.73. - № 1. - С.28-36. - ISSN 0044-4502.
Внешние системы:	DOI: 10.7868/S0044450218010048; РИНЦ: 32234700;
Реферат:	rus: Проведено испытание четырех методов коррекции и трех способов расчета коэффициентов поглощения при рентгеноспектральном микроанализе породообразующих минералов. Для испытаний привлечены экспериментальные данные Пушо и Пишуар, Сьюелла-Лава-Скотта и Армстронга. Показано, что поправочный фактор может быть рассчитан с погрешностью не более 1 отн.%, если в качестве аналитической используется коротковолновая линия (матричный эффект определяется преимущественно эффектом атомного номера), либо поглощение аналитической линии происходит в K-крае поглощения присутствующих в образце элементов. При наличии бинарного матричного эффекта, когда аналитическая линия испытывает поглощение в интервале K-L1, положение сложнее, и требуются дополнительные исследования.
Ключевые слова:	массовые коэффициенты поглощения; методы коррекции; электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ; матричный эффект; породообразующие минералы;
Издано:	2018
Физ. характеристика:	с.28-36
Цитирование:	1. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Выбор оптимального метода расчета поправочных факторов при рентгеноспектральном микроанализе породообразующих минералов // Журн. аналит. химии. 1996. Т. 51. № 3. С. 323. (Lavrent’ev Yu.G., Usova L.V. Choosing the optimum method of calculating correction factors in x-ray spectral microanalysis of rock-forming mine­rals // J. Analyt. Chem. 1996. V. 51. № 3. С. 300.) 2. Pouchou J.-L., Pichoir F. Quantitative analysis of homogeneous or stratified microvolumes appling the model “PAP” / Electron Probe Quantitation. N.Y.: Plenum Press, 1991. P. 31. 3. Merlet C. Maximum of the x-ray distribution in EPMA at normal incidence: an analytical expression // Micro­­- 4. beam Analysis. 1995. V. 4. P. 239. 5. Bastin G.F., Dijkstra J.M., Heijligers H.J.M. PROZA96: an improved matrix correction program for electron probe microanalysis, based on a double Gaussian j(rz) approach // X-Ray Spectrometry. 1998. V. 27. P. 3. 6. Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В. Второе поколение методов коррекции в рентгеноспектральном микроанализе: аппроксимационные модели функции распределения излучения по глубине // Журн. аналит. химии. 2004. Т. 59. № 7. С. 678. (Lavrent’ev Yu.G., Korolyuk V.N., Usova L.V. Second generation of correction methods in electron x-ray microanalysis; Approximation models for emission depth distribution functions // J. Analyt. Chem. 2004. V. 59. № . 7. P. 600.) 7. Маренков О.С. Таблицы и формулы рентгеноспектрального анализа. Л.: Машиностроение. 1981, Вып. 1. 110 с.; 1982, Вып. 3. 101 с. 8. Orlik I., Loh K.K., Sow C.H., Tang S.M., Thong P. Parametrization of the photon mass attenuation coefficients in the energy range 0.1-1000 keV, Z = 1.92 // Nucl. Instr. Meth. B. 1993. V. 74. № 3. P. 352. 9. Финкельштейн А.Л., Фарков П.М. Аппроксимации коэффициентов ослабления рентгеновского излучения в области энергии 0.1-100 кэВ // Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. № 4. С. 377. 10. Ebel H., Svagera R., Ebel M.H., Shaltout A., Hubbel J.H. Numerical description of photoelectric coefficients for fundamental parameter programs // X-Ray Spectrometry. 2006. V. 32. P. 442. 11. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В. Теоретические коэффициенты поглощения в рентгеноспектральном микроанализе // Аналитика и контроль. 2016. Т. 20. № 1. С. 15. 12. Scofield J.H. Theoretical photoionization cross-section from 1 to 1500 keV. Lawrence Livermore Labor. Rep. UCRL-51326. 1973. 13. Heinrich K.F.J. Mass absorption coefficients in electron probe microanalysis / Proc. 11th Inter. Congr. X-ray Optics and Microanalysis / Ed. Brown J.D., Packwood R.H. Ontario Univ. Press, 1987. P. 67. 14. Королюк В.Н., Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В., Нигматулина Е.Н. О точности электронно-зондового анализа породообразующих минералов на микроанализаторе JXA-8100 // Геология и гео­физика. 2008. Т. 49. № 3. С. 221. (Korolyuk V.N., Lavrent’ev Yu.G., Usova L.V. Nigmatulina E.N. JXA-8100 microanalyzer: accuracy of analysis of rock-forming minerals // Russ. Geol. Geophys. 2008. V. 49. № 3. P. 165.) 15. Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В., Нигматулина Е.Н. Рентгеноспектральный микроанализ породообразующих минералов на микроанализаторе JXA-8100 // Геология и геофизика. 2015. Т. 56. № 10. С. 1813. (Lavrent’ev Yu.G., Korolyuk V.N., Usova L.V. Nigmatulina E.N. Electron probe microanalysis of rock-forming minerals with JXA-8100 electron probe microanalyzer // Russ. Geol. Geophys. 2015. V. 56. № 10. P. 1428.) 16. Sewell D.A., Love G., Scott V.D. Universal correction procedure for electron probe microanalysis: II. The absorption correction // J. Phys. D: Appl. Phys. 1985. V. 18. P. 1245. 17. Armstrong J.T. Quantitative analysis of silicate and oxide materials: comparison of the Monte Carlo, ZAF and j(ρz) procedures / Microbeam Analysis. San Francisco: San Francisco Press, 1988. P. 239.