Инд. авторы:	Королюк В.Н., Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В., Нигматулина Е.Н.
Заглавие:	Некоторые особенности регистрации рентгеновского излучения на электронно-зондовом микроанализаторе jxa-8100
Библ. ссылка:	Королюк В.Н., Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В., Нигматулина Е.Н. Некоторые особенности регистрации рентгеновского излучения на электронно-зондовом микроанализаторе jxa-8100 // Журнал аналитической химии. - 2010. - Т.65. - № 3. - С.255-260. - ISSN 0044-4502.
Внешние системы:	РИНЦ: 13725785;
Реферат:	rus: Изучены отдельные источники погрешности измерений. В присутствии мешающего излучения автоматическая установка режима дискриминации спектрометров не оправдана. При выборе окна пропускания сигнала необходимо учитывать зависимость смещения амплитудного распределения от скорости счета. Потери интенсивности могут быть значительны. Величина эффективного “мертвого” времени составляет 1.3 мкс для спектрометров с проточными метан-аргоновыми счетчиками и 1.2–1.5 мкс для спектрометрических каналов с отпаянными ксеноновыми счетчиками. Режим постоянного “мертвого” времени сохраняется до интенсивностей 100–150 тыс. имп/с. Инструментальная погрешность рядового анализа несущественна относительно статистической погрешности набора импульсов. В спектрах от кристаллов LiF к коротковолновому крылу Au L излучения примыкает “провал” интенсивности. Измерение фона на нем завышает концентрацию элемента, а ослабление линии из-за спектральной “ямы”, наоборот, приводит к занижению. Поэтому при определении малых содержаний золота использование L линии в качестве аналитической нецелесообразно.
Издано:	2010
Физ. характеристика:	с.255-260
Цитирование:	1. Лаврентьев Ю.Г., Усова Л.В., Королюк В.Н., Логвинова А.М. // Геология и геофизика. 2005. Т. 46. № 7. С. 741. 2. Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В., Логвинова А.М. // Геология и геофизика. 2006. Т. 47. № 10. С. 1090. 3. Блохин М.А. Методы рентгено-спектральных исследований. М.: Из-во физико-математической литературы, 1959. 386 с. 4. Ревенко А.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ природных материалов. Новосибирск: ВО “Наука”. Сибирская издательская фирма, 1994. 263 с. 5. Beaman D.R., Isasi J.A., Birnbaum H.K., Lewis R. // Journal of Physics E: Scientific Instruments. 1972. V. 5. № 7. P. 767. 6. XM–17330/27330. BASIC SOFTWARE/QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM: Instruction JEOL. Tokyo. JEOL Ltd. 2001. Var. pag. 7. Рид С. Электронно-зондовый микроанализ. М.: Мир, 1979. 423 с. 8. Self P.G., Norrish K., Milnes A.R., Graham J., Robinson B. // X-Ray Spectrometry. 1990. V. 19. P. 59.