Инд. авторы:	Ежевская Т., Бубликов А., Пальянов Ю., Хохряков А.
Заглавие:	Российские алмазы в ик-фурье-спектрометрии
Библ. ссылка:	Ежевская Т., Бубликов А., Пальянов Ю., Хохряков А. Российские алмазы в ик-фурье-спектрометрии // Аналитика. - 2015. - № 2. - С.118-123. - ISSN 2227-572X.
Внешние системы:	РИНЦ: 23199135;
Реферат:	rus: Научно-производственная фирма "СИМЕКС" (Новосибирск) выпустила приставку НПВО-А (нарушенного полного внутреннего отражения с алмазным элементом) для инфракрасного фурье-спектрометра ФТ-801. В приставке впервые использованы российские монокристаллы синтетического алмаза, выращенные в ИГМ СО РАН на установках высокого давления БАРС. Обсуждаются результаты экспериментов по устранению азотных центров в алмазах с применением геттеров для уменьшения примесного поглощения в ИК-области, приведены фотографии выращенных алмазов и полученных из них элементов НПВО. eng: Scientific & production company SIMEX Ltd (Novosibirsk, Russia) has developed and manufactured an ATR attachment (attenuated total reflection with a diamond prism) for the FTIR spectrometer FT-801. In this device Russian synthetic diamond single crystals are employed for the first time. The crystals are produced at the V.S. Sobolev Institute of Geology and Mineralogy SB RAS, Novosibirsk, using the BARS high-pressure techniques. The results on the elimination of nitrogen impurities in diamond by using getters to reduce defect-induced infrared absorption are discussed. Photographs of the as-grown synthetic diamonds and the produced ATR elements are presented.
Ключевые слова:	ИК-фурье-спектрометр; diamond; FTIR spectrometer; ATR accessories; приставка НПВО; алмаз;
Издано:	2015
Физ. характеристика:	с.118-123
Цитирование:	1. Пальянов Ю.Н. Где растут алмазы? - Наука из первых рук, 2008, № 1, с. 12-31 2. Palyanov Y., Kupriyanov I., Khokhryakov A., Ralchenko V. Crystal Growth of Diamond, in: P. Rudolph (Ed.) Handbook of Crystal Growth (Second Edition). Volume 2a. Elsevier, 2015, pp. 671-713. doi:10.1016/B978-0-444-63303-3.00017-1