Инд. авторы:	Гриценко В.А., Иванов Р.М., Мороков Ю.Н.
Заглавие:	Электронная структура аморфного SiO2: Эксперимент и численное моделирование
Библ. ссылка:	Гриценко В.А., Иванов Р.М., Мороков Ю.Н. Электронная структура аморфного SiO2: Эксперимент и численное моделирование // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 1995. - Т.108. - № 12. - С.2216-2231. - ISSN 0044-4510.
Внешние системы:	WoS: A1995TQ90600024;
Издано:	1995
Физ. характеристика:	с.2216-2231